令和3年12月9日(木)と10日(金)、大村智記念学術館およびオンラインにて開催された第21回The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS-21)において、大学院修士課程工学専攻電気電子工学コース2年の川瀬幹大さん（指導教員：二宮啓 電気電子工学科准教授）がBest SISS-21 Poster Presentation（加連賞、Karen Award）を受賞しました。
　同賞は、ハイブリッド方式のショートプレゼンテーションおよび現地でのポスターセッションを行った研究者や学生の中から優れた発表を行った講演者に贈られます。
　川瀬さんが受賞したテーマは、「The Effect of Capillary Inner Diameter on Polystyrene Sputtering Produced by Vacuum Electrospray Droplet Ion Beams」です。
　本研究では、研究室独自の技術である真空エレクトロスプレー液滴イオンビームをポリマー試料に照射したときのスパッタ率を複数の手法を用いて評価し、イオンビームの発生源であるキャピラリーの内径がスパッタ率に及ぼす影響を明らかにしました。
　受賞した川瀬さんは、「栄誉ある加連賞をいただき大変光栄に思います。これまでご指導いただいた二宮准教授および研究室のメンバーに感謝します。ハイブリッド方式のショートプレゼンテーションと現地でのポスターセッションの組み合わせによる研究発表は初めてのことでしたが、貴重な経験が得られました」と述べています。

※SISS-21 (Japanese)HP